10:10~10:50 國際會議廳
製造業導入AI + AOI的機會與挑戰 / 華碩智慧解決方案事業部 彭愷翔 處長
隨著後疫情時代的來臨，製造業的挑戰 除了效率的提升之外，如何透過自動化系統的導入，減少人員的接觸與流動，成為另一個被關注的課題。AOI檢測系統就是希望光學檢測來取得傳統的目檢，但某些應用由於AOI的過殺率太高，人工覆判的情況仍是許多常見的做法。 近年來隨著AI技術的突飛猛進，過往許多在AOI檢測系統無法克服的問題，藉由AI技術的導入，似乎看到一盞明燈，但AI真的如同想像中的美好，在導入AI到既有的AOI系統之中，存在的那些機會與挑戰？
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10:50~11:30 國際會議廳
數位雙生與數據平台 / 台灣微軟物聯網卓越中心 周森益 協理
隨著工廠擴產、併購等商業行為的發生，生產線將持續演進。伴隨而來的是設備多樣性與相關的資料庫越來越複雜。要如建立統一的資料模型，加速產線資料存取成為重要的議題。再者，整合商業營運的ERP與與工廠管理的MES資料也成為現代化工廠管理的議題。透過共同資料模型與數位雙生技術，整合現場量測資料、產線運作資料及商業營運資料，成為數位轉型運作模型的重要框架。
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11:30~12:10 國際會議廳
AOI導入AI智能判圖在IC封裝廠之實務經驗分享 / 矽品精密工業/事業三處 技術開發 萬國輝 處長
AOI瑕疵檢驗一般以規則主導模式(Rule-based model)檢出缺陷並拍照，封裝廠應用AOI在產品檢查時，因IC外觀的複雜性，AOI程式 (Recipe) 設定，會無法避免地產生許多非缺陷(False defect)的相片，而必需再由人工複判，因此，導入AI對AOI相片執行缺陷辨識，便成為工廠減少人力提升效率的重要工作。矽品已執行此專案4年，在此將分享從IT硬體架構及作業環境建立，到AI模型訓練、佈署及監控維護的實務經驗。
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15:00~15:40 國際會議廳
智慧辨識在製造業的應用從AOI到AI / 雲科大智慧辨識中心 吳先晃 教授
隨著自動化生產在製造業的大量普及，生產量能也跟著大幅度的提高，而隨著客戶對品質的要求愈來愈高，對產品的全檢也漸成一種趨勢，量能的提升及對全檢的要求，使得AOI在製造業變成不可或缺的需求。
近年來取像設備及工業電腦價格的下降，已讓業者願意編列AOI的預算，來對產品進行產線上的即時全檢。在這個演講中，將針對團隊在製造業中執行過的AOI計畫案作介紹，而面臨有些待檢測物件影像中所存在獨特的複雜背景，發現之前無法檢出的瑕疵，靠著深度學習(AI)的幫助，將可以輕易的檢出，顯見AOI未來將結合AI成為製造業進行品質把關的利器。
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15:00~15:40 第四會議室
超穎透鏡新未來 / 陽明交通電子工程 曾銘綸 教授
To further innovate the photonic technologies for imaging, characterization, and sensing, it is highly needed for compact and high-efficiency devices. In recent years, there is a novel class of photonic devices, called meta-lenses, that seem to provide a striking platform for this goal. Being different from conventional bulky photonic components, meta-lenses consist of well-engineered nanostructures and are ultra-thin, lightweight, and show various novel functionalities that conventional counterparts lack. In this talk, I will introduce the concept, working mechanisms, and novel applications of nano-photonic meta-lenses. I will also report my perspective on the future directions for meta-lens research.
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15:00~15:40 二樓會議室
天線的發展與量測以及其相關應用介紹 / 量測中心 蘇于倫 工程師
在無線通訊中，天線扮演著接收與發射訊號的媒介，為了滿足不同的應用，天線的輻射型式也因應著不同的設計需求，而隨著第五代行動通訊從Sub-6GHz頻段開始往毫米波頻段進展，為了克服路徑傳遞的耗損，5G毫米波波段天線的形式將從過往的全向性輻射型天線，轉向發展具有將能量聚焦(波束成形)傳遞的指向性相位陣列天線型式，本主題將探討天線的發展與量測以及其相關應用。
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15:40~16:20 國際會議廳
人工智慧 – 產學發展的顯學 / 智泰科技 許志青 董事長
人工智慧在過往的十年，大眾對此題目的認知由陌生轉為顯學，教育部將人工智慧納入課綱之中，產業界對此也此致力的挖掘更多的應用面。 智泰科技對此開發出VisLab，以套裝軟體的方式進行產品規劃，更衍生出一系列的相關軟體，以因應快速變動的需求，希冀能協助產學界的先進，以各自的需求為目標，建立契合於自身專業領域之AI模型，協助其成就。
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15:40~16:20 第四會議室
FAST AI-AOI : 以自監督學習及自動化機器學習加速產業AI化 / 工研院 資通所 運算智慧技術組 黃茂裕 技術副理
隨著自監督學習及自動化機器學習技術的不斷演進，我們在這個講次將一起來探討產業如何藉由這些最新技術的進展以減少深度學習所需要的標註資料量及耗時的人工調參與網路架構設計，加速產業AI化。
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15:40~16:20 二樓會議室
半導體氣體微粒及其成分檢測技術 / 量測中心 劉定坤 工程師
於半導體製程中所產生之汙染，會對產品的良率有很大的影響；而在製程後排放出之汙染，亦對環境有很大的影響。隨著半導體製程的精進，且須符合節能減碳的議題；本中心針對半導體氣體微粒及其成分檢測，開發線上監控之技術，包括微米粒子檢測模組Remote particle counter，奈米粒子檢測技術 GED-DMA-CPC，以及微汙染監控技術 Soft X-ray AMC monitor，以因應當前之需求。
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16:20~17:00 國際會議廳
輕量化一站式部署－工業檢測AI模型快速導入方案 / 研華科技 張愛雲 產品經理
面對AOI+AI如何快速有效的實現圖像標註、再訓練、測試驗證到最後一哩路的部署落地, 一直是工業質檢範疇關心的課題。
研華打造工業視覺檢測輕量型平台, 除了包含上述功能外, 還提供三種預訓練模型、可外接第三方模型上架、推論、以及遠程部署等功能, 軟體加硬體整合的解決方案, 對應不同產業應用, 加值AOI實現AI導入的價值。
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16:20~17:00 第四會議室
AI-LiDAR感測與應用 / 量測中心 陳政憲 技術經理
LiDAR為新型態的感測器，目前多應用於自駕車交通感測系統，地理資訊系統之資料收集，建築與文物之3D建模掃描等。隨著3D感測技術的發展，LiDAR已導入消費型產品之應用，使用LiDAR作為新式的感測應用已非遙不可及。本主題將介紹AI-LiDAR感測與應用，將針對人流感測與智慧交通領域，提供另一種技術解決方案介紹。
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